辐射测试，人手摸样品的某个位置，毛刺消失，啥原因？

辐射发射测试，射频模式的辐射测试曲线出现很多小毛刺，有手触摸到控制板某个位置，毛刺就都消失了，这是什么原因呢？是不是有信号串到控制板了，反馈到射频链路上的？有没有什么好办法消除～

辐射测试

电磁兼容性（EMC）测试中是比较常见的，尤其是当辐射发射测试出现小毛刺，并且通过接触控制板的某个位置可以消除这些毛刺时。该情况与信号串扰或接地问题密切相关。通常有如下几个因素：

原因分析：

• 接地不良：如果控制板上的某些部分没有良好接地，可能会导致局部电位浮动，形成天线效应，从而产生不必要的辐射。
• 寄生参数：电路中的寄生电容、寄生电感等可能导致高频信号耦合到不应有的路径上，造成额外的辐射。
• 屏蔽不足：某些敏感节点或线路可能缺乏适当的屏蔽，使得外部干扰容易进入系统，或者内部信号容易泄露出去。
• 人体作为“去耦”元件：当你用手触摸控制板时，实际上起到了一个临时的去耦作用，改变了局部的阻抗匹配，当触摸控制板时，人体作为导电体相当于提供了一个低阻抗接地路径。这可能改变了电路局部的阻抗特性，使得原本通过寄生电容/电感耦合到射频链路的干扰信号被分流，从而抑制了毛刺。
  

• 电磁兼容（EMC）设计不足：射频敏感电路缺乏有效屏蔽，或电源/信号线未做充分滤波，使外部干扰（如开关噪声）或内部串扰进入射频通道。
  

解决方案：
1、优化接地设计

• 采用"星型接地"结构，确保所有模块通过单点接地
• 在控制板边缘设置连续接地层，关键位置增加接地过孔阵列
• 检查电源地与信号地是否有效隔离（如高频电路需采用"分割接地"后单点连接）
  

2、增强滤波措施

• 在射频链路电源引脚并联0.1μF+10μF多级去耦电容
• 数字IO口增加铁氧体磁珠+电容组成的π型滤波器
• 关键信号线末端串联22Ω电阻改善阻抗匹配
  

3、屏蔽与隔离

• 对射频模块增加金属屏蔽罩（需确保屏蔽层良好接地）
• 用导电布/导电泡棉隔离数字电路与射频电路
• 采用光耦或变压器隔离敏感信号
  

4、布线优化

• 避免射频走线与高速数字信号线平行布线（建议保持3倍线宽间距）
• 时钟线/数据线缩短长度并做45度折角处理
• 关键信号采用差分对布线并靠近接地层
  

5、软件辅助措施

• 在数字电路切换时插入死区时间
• 采用扩频时钟技术分散干扰能量
• 优化PWM信号边沿速率