CNAS-GL53 电磁兼容实验室场地确认技术指南 本文件适用于申请认可和已获认可的实验室从事电磁兼容EMC测量活动的场地确认要求,也适用于指导评审员对被评审机构EMC场地确认要求的评估和报告。 本文件是对CNAS-CL01-A008《检测和校准实验室能力认可准则 在电磁兼容检测领域的应用说明》在电磁兼容EMC实验室场地确认要求方面的补充说明和技术指南,并不增加其他的要求 引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
开阔试验场 open-area test site;OATS 用来测量和校准的设施,其利用大的平坦的导电接地平面实现地面发射的可复现性。 注1:OATS可用于辐射骚扰测量,这种情况时也称为符合性试验场地(COMTS)。OATS也可用于天线校准,这种情况时称为标准试验场地(CALTS)。 注2:OATS为无覆盖物的室外场地,其远离建筑物、电力线、篱笆、树木、地下电缆、管道和其他潜在的反射物体,以使得这些物体的影响可以忽略不计。OATS的结构参见GB/T6113.104-2016。[ GB/T 6113.203-2020,术语 3.1.20] 民标产品场地确认项目
汽车产品场地确认项目
专用电子、电气和机电设备及系统场地确认项目(军用设备和分系统)
通信产品场地确认项目 开阔试验场:需要确认、归一化场地衰减、辐射发射环境本底噪声。 半电波暗室:需要确认、屏蔽效能、接地电阻、绝缘电阻、归一化场地衰减、场地电压驻波比、场均匀性、辐射发射测试桌的影响评估、环境噪声电平。 全电波暗室:需要确认、屏蔽效能、接地电阻、绝缘电阻、归一化场地衰减、场地电压驻波比、场均匀性、辐射发射测试桌的影响评估、环境噪声电平。 民标产品 EMC 场地确认项目和要求 5.1 屏蔽室 5.1.1 屏蔽效能 a) 依据标准/规范:1) GB/T 12190 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法 2) EN 50147-1 Anechoic chambers - Part1.Shield attenuation measurement b) 性能要求:屏蔽室的屏蔽效能至少应满足CNAS-CL01-A008的要求: 1) 14 kHz-1 MHz >60 dB 2) 1 MHz-1000 MHz >90 dB 备注:常规屏蔽效能测试到1 GHz,特殊情况下依据使用情况测试到1 GHz以上。 c) 测量验证频次: 首次验证后,每3~5年进行一次验证 d) 报告要求: 应由CNAS或其互认框架下授权的检测机构出具的报告,报告应包含测试位置及布置图等信息,相关内容符合CNAS-CL01-A008的要求。 5.1.2 接地电阻 a) 依据标准/规范:GB/T 16895.23 低压电气装置 第6部分:检验 b) 性能要求:屏蔽室的接地电阻至少应满足CNAS-CL01-A008的要求:接地电阻小于4 Ω。 c) 测量验证频次:首次验证后,每3~5年进行一次验证。 d) 报告要求:应由CNAS或其互认框架下授权的检测机构出具的报告,报告应包含测试点位置等相关信息,相关内容符合CNAS-CL01-A008的要求。 5.1.3 绝缘电阻 a) 依据标准/规范:GB/T 16895.23 低压电气装置 第6部分:检验 b) 性能要求:屏蔽室的绝缘电阻至少应满足CNAS-CL01-A008的要求:电源进线对屏蔽室金属壁的绝缘电阻及导线与导线之间的绝缘电阻应大于2 MΩ。 c) 测量验证频次:首次验证后,每3~5年进行一次验证。 d) 报告要求:应由CNAS或其互认框架下授权的检测机构出具的报告,报告相关内容符合CNAS-CL01-A008的要求。 5.1.4 环境噪声电平 a) 依据标准/规范:
b) 性能要求:屏蔽室的环境噪声电平应比相应适用标准规定的限值至少低20dB。 c) 测量验证频次:首次验证,其后实验室可自行规范每次测试前的环境噪声电平确认。 d) 报告要求:首次验证报告应由CNAS或其互认框架下授权的检测机构出具。 5.2 半电波暗室 5.2.1 屏蔽效能 a) 依据标准/规范: 1) GB/T 12190 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法 2) EN 50147-1 Anechoic chambers - Part1.Shield attenuation measurement 备注:进行复测时,由于吸波材料已布置好,此时仅在天线能按照标准布置的部位进行屏蔽效能的测试。 b) 性能要求:半电波暗室的屏蔽效能应至少满足CNAS-CL01-A008的要求:
c) 测量验证频次:首次验证后,每3~5年进行一次验证 d) 报告要求:应由CNAS或其互认框架下授权的检测机构出具的报告,报告应包含测试位置及布置图等信息,相关内容符合CNAS-CL01-A008的要求。 5.2.2 接地电阻 同5.1.2要求,接地电阻小于4 Ω,首次验证后,每3~5年进行一次验证。 5.2.3 绝缘电阻 同5.1.3要求 ,电源进线对屏蔽室金属壁的绝缘电阻及导线与导线之间的绝缘电阻应大于2MΩ,首次验证后,每3~5年进行一次验证。 5.2.4 归一化场地衰减 a) 依据标准/规范:
b) 性能要求:半电波暗室的归一化场地衰减(NSA) 满足CNAS-CL01-A008的要求:±4 dB场地可接受原则。 NSA要求±4 dB c) 测量验证频次:首次验证后,每3~5年进行一次验证 d) 报告要求:应由CNAS或其互认框架下授权的检测机构出具的报告,报告应包含足够的场地布置信息、测试布置照片,测试轴线的位置,应有根据天线类型分频段给出不同极化方式下的归一化场地衰减偏差的测试曲线和限值线,相关内容符合CNAS-CL01-A008的要求。 5.2.5 场地电压驻波比 a) 依据标准/规范:
b) 性能要求:半电波暗室的场地电压驻波比(SVSWR)满足CNAS-CL01-A008的要求:≤6.0dB。 c) 测量验证频次:首次验证后,每3~5年进行一次验证 d) 报告要求:应由CNAS或其互认框架下授权的检测机构出具的报告,报告应包含足够的场地布置信息、测试布置照片,测试轴线的位置,应有根据天线类型分频段给出不同极化方式下的场地电压驻波比偏差的测试曲线和限值线,相关内容符合CNAS-CL01-A008的要求。 5.2.6 场均匀性 a) 依据标准/规范:
b) 性能要求:电波暗室的场均匀域满足相关标准要求,如GB/T 17626.3-2016或IEC61000-4-3:2020等。 c) 测量验证频次:首次验证后,每3~5年进行一次验证 d) 报告要求:应由CNAS或其互认框架下授权的检测机构出具的报告。 5.2.7 辐射发射测试桌的影响评估 a) 依据标准/规范:
b) 性能要求:辐射发射测试桌的影响评估结果需引入到辐射发射测量不确定评估的贡献值中。 c) 测量验证频次:首次验证或更换测试桌后。 d) 报告要求:应由CNAS或其互认框架下授权的检测机构出具的报告,报告中应记录测试桌的名称、尺寸、材质等基本信息,并包含测试布置信息,需特别注意1GHz频段以上测试桌的影响评估。 5.2.8 环境噪声电平 a) 依据标准/规范:
b) 性能要求:半电波暗室的环境噪声电平应比规定的限值低20dB,但至少要低6 dB。 c) 测量验证频次:首次验证,其后实验室可自行规范每次测试前的环境噪声电平确认。 d) 报告要求:首次验证报告应由CNAS或其互认框架下授权的检测机构出具。 CNAS-GL53 电磁兼容实验室场地确认技术指南.pdf |
DB44/T 2032-2017 大型医疗设备或系统电磁兼容性现场测试方法