采用NTC 热敏电阻的温度传感器,对于RS辐射抗扰度测试,不合格的挑战是什么? 在RS辐射抗扰度测试中,采用NTC热敏电阻的温度传感器可能面临的挑战主要在于模拟电压电流的微弱变化及其转换过程。由于NTC热敏电阻是一种负温度系数的热敏电阻,其电阻值与温度变化之间的关系表现为对数下降,因此,任何微小的温度变化都可能导致电阻值的较大变化,从而影响ADC芯片的转换精度。 在进行RS辐射抗扰度测试时,如果环境中存在强烈的电磁干扰,可能会对NTC热敏电阻的电阻值造成影响,进而导致ADC转换错误。此外,由于NTC热敏电阻的特性,即电阻值会随着温度的升高而呈非线性的下降,因此在设计和应用时需要对其基本参数有清晰的了解,以便更准确地进行电路设计和数据处理。 对于采用NTC热敏电阻的温度传感器来说,RS辐射抗扰度测试的挑战主要在于如何准确地捕捉和处理由微小温度变化引起的电阻值变化以及如何抑制外部电磁干扰以保证ADC转换的准确性。 采用NTC 热敏电阻的温度传感器在RS辐射抗扰度测试中的根本原因是来自于NTC热敏电阻的物理特性。NTC热敏电阻的阻值随温度降低而增加,具有很高的灵敏度。然而,在RS辐射抗扰度测试中,PCB trace、线束等等效接收天线感应到干扰电压、可能会受到外界电磁干扰的影响,导致热敏电阻的阻值、或者电压、电流发生变化,从而影响温度传感器的测量结果导致出现误差或者错误。 为了解决这个问题,可以采用一些技术措施来提高NTC热敏电阻温度传感器的RS辐射抗扰度。首先,选择具有高稳定性、低噪声的热敏电阻材料,可以降低外界干扰对传感器性能的影响。其次,可以在传感器电路中加入滤波器、屏蔽措施等,以进一步减小外界电磁干扰的影响。此外,对传感器进行适当的标定和校准,也可以提高其测量精度和稳定性。 |